BRUKER NANO ANALYTICS PRESENTS:

배터리 소재 및 공정에 EDS (Elemental Mapping)의 최적화 적용법 소개

December 19th 2024


Live Session 1*
December 19th 2024}

2 pm KST / Seoul
1 pm SGT / Singapore
2 pm JST / Tokyo

*두 세션의 내용은 동일합니다.

무엇을 기대할 수 있나요?

배터리 셀 화학 및 제조 공정을 개선하는 것은 청정 에너지 경제를 달성하는 데 매우 중요합니다. 실제로 에너지 밀도, 충방전 등급 및 셀 수명은 셀 내부의 전기화학 반응 및 제조 또는 사이클링으로 인해 형성된 구조적 특징과 관련이 있으며, 일반적으로 이 모든 파라미터의 최적화는 양극재, 음극재, 전해질 및 이들 각각의 계면에 대한 분석을 포함하는 다중 스케일, 다중 모델 과제입니다.


이번 웨비나에서는 다른 몇 가지 특성화 기술과 결합한 에너지 분산 X선 분광법(EDS)과 셀 성능 및 고장 진단에 관련된 중요한 해결책을 제공하는 방법에 초점을 맞춥니다. 특정 원소나 오염 물질들이 단일 스펙트럼 기반 EDS 분석의 감도 수준을 넘어서는 농도로 존재할 수 있습니다.


이때 Bruker ESPRIT 원소 맵핑 소프트웨어와 고감도 XFlash® 760 및 FlatQUAD 검출기를 결합하여 제한된 원소를 미량까지 분석할 수 있는 효과적인 활용법을 소개합니다.


누가 참석해야 하나요?

plus 배터리 제조업체

plus 배터리 개발 종사 연구원

plus 배터리 기술 전문가 및 엔지니어

plus 첨단 EDS 분석 기법에 관심이 있는 SEM 현미경 전문가




지금 등록하여 자리를 확보하세요


Bruker XFlash FlatQUAD로 측정한 원소 맵핑 이미지와 SE 이미지를 오버랩한 단면 음극 샘플의 결과


Bruker XFlash FlatQUAD로 측정한 원소 맵핑 이미지와 SE이미지를 오버렙한 단면 양극 샘플의 결과




5 kV SEM EDS map of a highly topographic, curved and charging surface of a Radiolaria. XFlash® FlatQUAD’s annular 4-segment SDD design enables signal collection from four sides of the sample.


Chemical distribution map of a heavily charging pharmaceutical sample (multivitamin tablet) at 10 kV and low probe current (< 150 pA) with a short measurement time (67 seconds) and high count rate of 46,700 cps.


Ultra-high resolution SEM EDS map of a bulk FinFET structure acquired at 5 kV with XFlash® FlatQUAD with a high countrate of 309,000 cps in 90 seconds. The peak overlaps of Si-K (1.74 keV), W-M (1.81 keV) and Hf-M (1.67 keV) X-ray lines are automatically deconvoluted during acquisition.



발표자

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최성지 차장

교육 지원, EDS, EBSD, FlatQUAD, Micro-XRF, WDS
브루커 나노 애널리틱스

choi-sungi


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