*두 세션의 내용은 동일합니다.

무엇을 기대할 수 있나요?

배터리 셀 화학 및 제조 공정을 개선하는 것은 청정 에너지 경제를 달성하는 데 매우 중요합니다. 실제로 에너지 밀도, 충방전 등급 및 셀 수명은 셀 내부의 전기화학 반응 및 제조 또는 사이클링으로 인해 형성된 구조적 특징과 관련이 있으며, 일반적으로 이 모든 파라미터의 최적화는 양극재, 음극재, 전해질 및 이들 각각의 계면에 대한 분석을 포함하는 다중 스케일, 다중 모델 과제입니다.

이번 웨비나에서는 다른 몇 가지 특성화 기술과 결합한 에너지 분산 X선 분광법(EDS)과 셀 성능 및 고장 진단에 관련된 중요한 해결책을 제공하는 방법에 초점을 맞춥니다. 특정 원소나 오염 물질들이 단일 스펙트럼 기반 EDS 분석의 감도 수준을 넘어서는 농도로 존재할 수 있습니다.

이때 Bruker ESPRIT 원소 맵핑 소프트웨어와 고감도 XFlash® 760 및 FlatQUAD 검출기를 결합하여 제한된 원소를 미량까지 분석할 수 있는 효과적인 활용법을 소개합니다.

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Chemical distribution map of a heavily charging pharmaceutical sample (multivitamin tablet) at 10 kV and low probe current (< 150 pA) with a short measurement time (67 seconds) and high count rate of 46,700 cps.

Ultra-high resolution SEM EDS map of a bulk FinFET structure acquired at 5 kV with XFlash® FlatQUAD with a high countrate of 309,000 cps in 90 seconds. The peak overlaps of Si-K (1.74 keV), W-M (1.81 keV) and Hf-M (1.67 keV) X-ray lines are automatically deconvoluted during acquisition.

발표자

최성지 차장 교육 지원, EDS, EBSD, FlatQUAD, Micro-XRF, WDS 브루커 나노 애널리틱스